Ве молиме користете го овој идентификатор да го цитирате или поврзете овој запис: http://hdl.handle.net/20.500.12188/14768
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorJ. Bloch, B. Pejova, J. Jacob, B. Hjörvarsson,en_US
dc.date.accessioned2021-09-21T08:50:00Z-
dc.date.available2021-09-21T08:50:00Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12188/14768-
dc.descriptionJ. Bloch, B. Pejova, J. Jacob, B. Hjörvarsson, Hydrogen-vanadium system in thin films: Effect of film thickness, Physical Review B, 82, 245428 (2010).en_US
dc.language.isoen_USen_US
dc.relation.ispartofPhysical Review B, 82, 245428 (2010).en_US
dc.titleHydrogen-vanadium system in thin films: Effect of film thicknessen_US
dc.typeJournal Articleen_US
dc.identifier.doiDOI:10.1103/PhysRevB.82.245428-
item.grantfulltextnone-
item.fulltextNo Fulltext-
Appears in Collections:Faculty of Natural Sciences and Mathematics: Journal Articles
Прикажи едноставен запис

Page view(s)

37
checked on 31.1.2026

Google ScholarTM

Проверете

Altmetric


Записите во DSpace се заштитени со авторски права, со сите права задржани, освен ако не е поинаку наведено.