Ве молиме користете го овој идентификатор да го цитирате или поврзете овој запис: http://hdl.handle.net/20.500.12188/10984
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorNovkovski, N.en_US
dc.contributor.authorSkeparovski, A.en_US
dc.date.accessioned2021-03-16T09:36:29Z-
dc.date.available2021-03-16T09:36:29Z-
dc.date.issued2019-09-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12188/10984-
dc.language.isoenen_US
dc.publisherIEEEen_US
dc.titleDetermination Method for Interface State Densities Adapted to Ultrathin Dielectricsen_US
dc.typeArticleen_US
dc.relation.conference2019 IEEE 31st International Conference on Microelectronics (MIEL)en_US
dc.identifier.doi10.1109/miel.2019.8889574-
dc.identifier.urlhttp://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8883095/8889568/08889574.pdf?arnumber=8889574-
item.fulltextNo Fulltext-
item.grantfulltextnone-
Appears in Collections:Faculty of Natural Sciences and Mathematics: Journal Articles
Прикажи едноставен запис

Page view(s)

34
checked on 9.7.2025

Google ScholarTM

Проверете

Altmetric


Записите во DSpace се заштитени со авторски права, со сите права задржани, освен ако не е поинаку наведено.